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CMY-410落射三目正置金相顯微鏡 芯片檢測顯微鏡
產(chǎn)品介紹CMY-410正置金相顯微鏡配有大移動(dòng)范圍的載物臺(tái)、落射照明器、平場消色差物鏡、大視野目鏡,圖像清晰、襯度好,同時(shí)配有偏光裝置,是金屬學(xué)、礦物學(xué)、精密工程學(xué)、電子學(xué)等研究的理想儀器。適用于薄片試樣的金相、礦相、巖相、晶體等結(jié)構(gòu)分析和鑒別,或用于觀察材料表面特性,如:劃痕、裂紋、噴涂的均勻性等及紡織纖維、化學(xué)顆粒的分析研究??偡糯蟊稊?shù):50X-800X 性能特點(diǎn):
技術(shù)參數(shù)
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